电镜前处理设备

可制备横切面和抛光表面，用于SEM、 TEM、 EDS、WDS、Auger和AFM 等测试的样品前处理。

通过电解与抛光作用使金属样品发生减薄并穿孔，形成大面积薄区，主要用于TEM测试样品的终减薄。

1、可实现大面积离子抛光或减薄，使样品具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构；
2、可用于制备TEM、SEM和LM测试样品，且可采用低离子能量处理非常柔软的样品。

1、在非导电材料表面蒸发或者溅射沉积纳米导电薄膜，在很好保持样品原始的表面形貌基础上用来提高样品的表面导电性能；
2、高真空锻膜仪配备溅射锁金属和蒸发锁碳两种功能，搭配冷冻断裂样品台，实现低温锁膜及真空 传输功能。

具有定点修块抛光功能，利用锯、磨、铣削、抛光的方法制备TEM、SEM和LM的测试样品。