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规格型号 |
JEM-F200 |
| 存放地 |
海映楼B105、B109 |
| 仪器负责人 |
高晓霞，刘晓娜 |
| 电话 |
84707908 |
| 预约网址 |
http://gxpt.dlut.edu.cn |
| 性能指标 |
1、TEM点分辨率：0.23 nm；线分辨率0.10 nm；
2、STEM HAADF分辨率0.16 nm；
3、EDS 双能谱探头；
4、Gatan Oneview IS超快速CMOS相机。 |
| 功能及应用 |
1、TEM模式: 形貌像、高分辨(HRTEM)、电子衍射(Diffraction)、明/暗场像(Bright/Dark Field Image)；
2、HAADF-STEM模式: 明/暗场(Bright/Dark Field Image)；
3、EDS 成分分析：点分析(Point analysis)、线分析(Line Scan)、面分析(Mapping)；
4、热/电原位电镜样品杆；
5、液体、电化学原位样品杆；
6、三维透射电镜样品杆。 |
| 样品要求 |
1、粉末样品、液体样品需要制备到适合样品的有机碳膜铜网上；常见碳膜铜网有：连续碳膜、超薄碳膜、不连续碳膜（也叫微栅）；如果样品有磁性，请使用有碳膜的双联膜铜网。电镜测试时，只带载有样品的铜网。
2、固体块材样品需要减薄到TEM测试要求，需要根据样品选择合适的减薄方法。 |
| 收费标准 |
实验项目 |
收费单位 |
校内 |
社会服务 |
其他收费 |
| 委托测试 |
元/小时 |
600 |
1200元/样 |
参见预约平台详细要求 |
| 自主测试 |
元/小时 |
480 |
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