X射线衍射仪（盘锦校区）
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设备基本信息
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描述 主要规格及技术指标：
测角仪半径：L型：275mm；S型：200mm；最小步进角度：0.0001°；扫描范围：0°-﹢82°（θs），0°-﹢132°（θd），0°-﹢164°（2θ）；扫描速度：0.1°/min-50°/min（θs、θd）
主要功能及特色：
用于无机物、有机物（部分）、高分子、药物及矿物等多晶样品的分析。可进行物相定性、晶粒度测定、纳米材料颗粒分布、长周期测定、取向度测定、晶型鉴别、Kα1射线数据测量以及其它参数测定。
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